技術參數
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機身型號
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軸數
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工作范圍
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單點精度
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空間精度
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EYES掃描精度
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WIDE掃描精度
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OPEN掃描精度
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720\620\620P
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7\6\6
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2.0m
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22\18\16 μm
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32\26\22 μm
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38 μm
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42 μm
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47 μm
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725\625\625P
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7\6\6
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2.5m
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27\23\20 μm
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38\34\30 μm
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44 μm
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48 μm
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53 μm
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730\A630
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7\6
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3.0m
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42\30 μm
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51\43 μm
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57 μm
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61 μm
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66 μm
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735\A635
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7\6
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3.5m
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54\39 μm
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62\56 μm
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68 μm
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72 μm
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77 μm
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740\A640
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7\6
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4.0m
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69\54 μm
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74\67 μm
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80 μm
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84 μm
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89 μm
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745\A645
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7\6
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4.5m
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78\72 μm
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89\82 μm
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95 μm
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99 μm
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104 μm
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測頭參數
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EYES測頭
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WIDE測頭
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OPEN測頭
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最高采樣頻率
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300Hz,60萬點/秒
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300Hz,60萬點/秒
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200Hz,20萬點/秒
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精度2σ
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9μm
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15μm
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20μm
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最大掃描線寬
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100mm
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200mm
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100mm
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測頭重量
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<400 g
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<400 g
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<400 g
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激光類型
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藍色激光
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藍色激光
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藍色激光
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采樣分辨率
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25μm
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50μm
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50μm
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掃描最小距離
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90mm
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85mm
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85mm
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景深
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80mm
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110mm
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110mm
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LED指示
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有
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有
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無
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溫度補償
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有
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有
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無
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測頭快速轉換
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有
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有
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有
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掃描和接觸一體
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有
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有
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無
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特點
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高精度
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高效率
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高性價比
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說明：（1）以上數據測試依據：ASME B89.4.22標準中所述的測試方法的一部分；（2）工作環(huán)境：溫度10-45℃，濕度0-95%（無凝結），電壓：100-250VAC\50-60Hz；（3）上述數據可能因技術升級而更改，請與SGKS實驗室聯系了解最新數據。
應用說明
SGKS實驗室憑借數十年的行業(yè)經驗和對非傳統測量技術的理解，致力于為客戶提供領先的測量技術服務和創(chuàng)新解決方案。PSA（即PLOCK+Skyline+Ace）測量系統融合了SGKS實驗室PLOCK專利技術、科瑞朗S\A\Z測頭系統和ACE測量機，具備先進的藍色激光三維掃描和接觸測量能力，并自帶AQC自動材質適應，可直接完成高亮或深黑材質的三維激光掃描，系統的超大尺寸三維測量模塊，可低成本完成數十米甚至百米、誤差不超過0.2mm的三維掃描和測量，尤其適合航空航天、國防軍工、海洋裝備和造船、智能制造自動化生產線、汽車整車、機車、工程機械等涉及的規(guī)劃、檢測、安裝、調試等任務，以及民用機械制造業(yè)的品質保證和逆向工程、動植物三維形態(tài)研究等領域。
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